场发射透射电子显微镜


仪器名称场发射透射电子显微镜

仪器型号JEM-2100F

生产厂家日本电子株式会社

仪器简介:场发射透射电子显微镜广泛应用于材料科学、生命科学、医疗、制药等领域。它不仅可实现超高分辨率图像的观察,同时还可以得到纳米尺度的显微形貌、晶体结构、元素组成等信息。该仪器配备有X射线能谱仪(EDS)。

出厂主要技术指标:

1、加速电压:80100120160200 KV

2 、分辨率:点分辨率0.1nm;线分辨率0.14nmSTEM分辨率0.20nm

3、放大倍数:50-1500K

4、样品最大倾角:±25°

送样要求:

1、样品不得具有磁性、放射性、毒性和腐蚀性;

2 、样品须具有一定的稳定性,须确保当受到电子束照射时不产生挥发性、腐蚀性物质;

3 、须提供样品的名称、分子结构和晶体结构等信息;

4 、送样者需明确测试目的,即期望获得什么信息。


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